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EMI屏蔽效能和電磁干擾屏蔽測(cè)量

EMI電磁干擾屏蔽測(cè)量
 
電子器件在世界范圍內(nèi)的迅速發(fā)展，使電磁干擾（EMI）和射頻干擾（RFI）成為人們關(guān)注的重要問題。盡管所有的電子設(shè)備都會(huì)發(fā)射電磁能和電能，但如果這種能量無意中與另一個(gè)設(shè)備發(fā)生了相互作用并導(dǎo)致其故障，則認(rèn)為是干擾。大多數(shù)電磁干擾是由1千赫茲到10千兆赫茲之間的頻率引起的，這個(gè)范圍被稱為射頻干擾波段，包括無線電和音頻。常見的干擾源包括無線電、電視、電動(dòng)機(jī)、電器、雷達(dá)發(fā)射機(jī)、靜電和閃電。易受干擾的設(shè)備，如計(jì)算機(jī)、微處理器、廣播接收器、測(cè)量?jī)x器和導(dǎo)航系統(tǒng)，必須經(jīng)常進(jìn)行屏蔽，以保護(hù)它們免受電磁干擾的影響。
 
由于電子設(shè)備塑料外殼的使用越來越多，電磁干擾屏蔽已成為一個(gè)更重要的問題。大多數(shù)塑料都是絕緣體，因此電磁波可以自由通過，必須使用導(dǎo)電屏障作為屏蔽來阻擋電磁波。為了提供屏蔽，塑料外殼涂有導(dǎo)電層，或者外殼本身是導(dǎo)電的。涂層方法更為常見，因?yàn)樗菀淄瓿?，而且?duì)屏蔽外殼的質(zhì)量依賴性較小。為了衡量屏蔽項(xiàng)目的有效性，可以對(duì)屏蔽設(shè)備或外殼應(yīng)用一套特定的測(cè)試和測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)。
 
EMI電磁干擾屏蔽測(cè)量：
 
衰減是衡量電磁干擾屏蔽效能的主要指標(biāo)之一。電磁信號(hào)在屏蔽前的強(qiáng)度與屏蔽后的強(qiáng)度之差。衰減以分貝（db）為單位，對(duì)應(yīng)于有或無保護(hù)介質(zhì)的場(chǎng)強(qiáng)之比。信號(hào)強(qiáng)度或振幅的降低通常與距離成指數(shù)關(guān)系，而分貝范圍則沿對(duì)數(shù)刻度下降。這意味著50分貝的衰減率表明屏蔽強(qiáng)度是40分貝的10倍。一般來說，10到30分貝的屏蔽范圍提供了最低有效屏蔽水平，而低于該范圍的任何屏蔽都可以被視為很少或沒有屏蔽。60至90分貝之間的屏蔽可能被視為高水平的保護(hù)，而90至120分貝是例外。
 
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