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EMI電磁干擾屏蔽效能試驗(yàn)！

確定電磁干擾屏蔽的衰減水平可能很復(fù)雜，用于檢索結(jié)果的方法通常根據(jù)特定的屏蔽應(yīng)用而有所不同。測試屏蔽強(qiáng)度的一些常見技術(shù)包括：
 
•開放式現(xiàn)場測試：開放式現(xiàn)場測試旨在盡可能模擬電子設(shè)備的正常使用條件。天線放置在距離設(shè)備不同的地方，除了測試設(shè)備之外，沒有其他金屬材料。這通常發(fā)生在一個(gè)開放的場所，以允許自由空間測量輻射場強(qiáng)度和傳導(dǎo)發(fā)射。結(jié)果由噪聲電平表記錄，該表檢測產(chǎn)生的電磁干擾水平。戶外測試最適合于成品電子產(chǎn)品。
 
•同軸傳輸線測試：該測試方法測量平面波場電磁波輻射，以確定平面材料的屏蔽效能，通常用于比較測試?；鶞?zhǔn)測試裝置被放置在專用的保持單元中，并記錄其在多個(gè)頻率下接收的電壓。然后，第一個(gè)主題被一個(gè)負(fù)載設(shè)備所取代，這個(gè)負(fù)載設(shè)備要經(jīng)過相同系列的測試。參考和負(fù)載裝置之間的比較確定了有屏蔽材料和無屏蔽材料的功率接收比。
 
•屏蔽盒測試：屏蔽盒技術(shù)采用帶切口的密封盒。在盒子的開口處放置一個(gè)導(dǎo)電涂層的屏蔽單元，測量所有發(fā)射和接收的輻射。記錄并比較盒內(nèi)和盒外的電磁信號(hào)與代表屏蔽效能的信號(hào)之比。這種方法對于超過500兆赫的頻率通常是無效的。
 
•屏蔽室測試：在某些情況下，可能無法顯著降低某一區(qū)域的環(huán)境噪聲量，可能需要采用屏蔽室技術(shù)。這種方法通常包括至少兩個(gè)屏蔽室，它們之間有一堵墻，傳感器可以通過這堵墻運(yùn)行。測試裝置和測試設(shè)備放在一個(gè)房間里，傳感器陣列放在另一個(gè)房間里。通常包括屏蔽引線，以降低由外部信號(hào)引起的測量誤差的可能性。屏蔽室過程非常適合評估設(shè)備的敏感性。
 
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